Lab Companion-廣東宏展科技有限公司LED產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)遇到溫度急劇變化的環(huán)境。例如,在嚴(yán)寒的冬天,工程師將LED產(chǎn)品從室外拿到室內(nèi)工作,或者從室內(nèi)拿到室外工作,就會(huì)遇到溫度的大幅度變化;如LED光源應(yīng)用于“神七”載人航天器,作為“神七”出艙活動(dòng)的照明燈,為太空人出艙行走和太空圖像拍照提供照明。外太空環(huán)境復(fù)雜,地影區(qū)(背離太陽)溫度在-60~-70℃,日照區(qū)溫度非常高,在+200℃左右。因此,要求LED產(chǎn)品具有能承受這種溫度迅速變化的能力。
溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)格登記由組成循環(huán)試驗(yàn)的高低溫溫度值、平衡時(shí)間、轉(zhuǎn)換時(shí)間及循環(huán)次數(shù)決定。相關(guān)規(guī)范規(guī)定高低溫應(yīng)從GB/T2421-2001《試驗(yàn)A:低溫》和GB/T2423.2-2001《試驗(yàn)B:高溫》規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取。循環(huán)次數(shù)一般為5個(gè),轉(zhuǎn)換時(shí)間為2~3min。
熱沖擊試驗(yàn)
熱沖擊試驗(yàn)是溫度劇烈變化環(huán)境下的試驗(yàn)。熱沖擊試驗(yàn)的程序和方法與溫度循環(huán)試驗(yàn)基本一樣,兩者的主要區(qū)別是:熱沖擊試驗(yàn)的溫度變化更為劇烈,即被實(shí)驗(yàn)樣品的高溫和低溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間要小很多(為此,熱沖擊試驗(yàn)必須有兩個(gè)溫度箱),轉(zhuǎn)換后盡快達(dá)到新的溫度??刹捎脙上涮峄@移動(dòng)式熱沖擊試驗(yàn)箱進(jìn)行熱沖擊試驗(yàn)。將樣品放入試料籃內(nèi),通過上下左右自動(dòng)前后移動(dòng)的裝置移動(dòng)試料籃至預(yù)熱槽或預(yù)冷槽,進(jìn)行往返沖擊試驗(yàn),高溫為125℃,低溫為-40℃,高溫和低溫的停留時(shí)間為5~30min,轉(zhuǎn)換時(shí)間為20s,循環(huán)次數(shù)為200次。在熱沖擊試驗(yàn)前后,均對樣品進(jìn)行形貌檢查和光電參數(shù)檢查試驗(yàn)。
濕熱試驗(yàn)
在熱帶,雨后會(huì)形成高溫、高濕的環(huán)境,相對濕度大于98%。濕熱試驗(yàn)的目的是為了確定LED產(chǎn)品在高溫、高濕或者伴有溫度、濕度變化條件下工作或儲(chǔ)存的適應(yīng)能力。我國規(guī)定了恒定濕熱和交變濕熱兩種試驗(yàn)。
溫度循環(huán)試驗(yàn) (Thermal Cycling Test)
在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來,造成產(chǎn)品的損傷或失效,進(jìn)而影響到產(chǎn)品的可靠度。
以每分鐘5~15度的溫變率,在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測試,此試驗(yàn)并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加應(yīng)力于試件上,加速試件之老化因子,使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生損害系統(tǒng)設(shè)備及零組件,以決定試件是否正確設(shè)計(jì)或制造。
常見的有:
產(chǎn)品之電性功能
潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用
喪失機(jī)械強(qiáng)度,造成破裂、裂縫
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學(xué)作用
應(yīng)用范圍:
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品環(huán)境仿真試驗(yàn)
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品應(yīng)力壽命試驗(yàn)(Strife test)
PCB/PCBA/焊點(diǎn)加速應(yīng)力試驗(yàn)(ALT/AST)…
溫度沖擊試驗(yàn)(Thermal Shock)
在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來,造成產(chǎn)品的損傷或失效,進(jìn)而影響到產(chǎn)品的可靠度。
以每分鐘40度的溫變率,在溫度急速變化上做極嚴(yán)苛條件之高、低溫沖擊測試,此試驗(yàn)并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加嚴(yán)苛應(yīng)力于試件上,加速試件之老化因子,使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生潛在性損害系統(tǒng)設(shè)備及零組件,以決定試件是否正確設(shè)計(jì)或制造。
常見的有:
產(chǎn)品之電性功能
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)毀壞或強(qiáng)度降低
零組件之錫裂現(xiàn)象
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學(xué)作用
密封損害
機(jī)臺(tái)規(guī)格:
Temperature range:-60℃~+150℃
Recovery time:< 5 min
Inside dimension:370*350*330mm(D×W×H)
應(yīng)用范圍:
PCB可靠度加速試驗(yàn)
車電模塊加速壽命試驗(yàn)
LED零件加速試驗(yàn)…
溫度變化對產(chǎn)品的影響:
元器件涂覆層脫落、灌封材料和密封化合物龜裂甚至破密封外殼開裂、填充料泄漏等,使得元器件電性能下降;
由不同材料構(gòu)成的產(chǎn)品,溫度變化時(shí)產(chǎn)品受熱不均勻,導(dǎo)致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品開裂、玻璃或玻璃器皿和光學(xué)器等破碎;
較大的溫差,使得產(chǎn)品在低溫時(shí)表面會(huì)產(chǎn)生凝露或結(jié)霜,在高溫時(shí)蒸發(fā)或融化,如此反復(fù)作用的結(jié)果導(dǎo)致和加速產(chǎn)品的腐蝕。
溫度變化環(huán)境效應(yīng):
玻璃制品和光學(xué)裝備破裂。
可動(dòng)零件卡死或松動(dòng)。
結(jié)構(gòu)產(chǎn)生分離。
電性改變。
由于急速凝結(jié)水或結(jié)冰造成電子或機(jī)械失效。
以顆粒狀或紋狀產(chǎn)生破裂。
不同材料之不同收縮或膨脹特性。
組件變形或破裂。
表面涂料之龜裂。
密封艙之漏氣。